日本 SIGMAKOKI 西格瑪 反射物鏡 OBLR-20A

OBLR-20A

OBLR-40A

反射物鏡/OBLR-30A

該物鏡由反射鏡構(gòu)成，不受玻璃折射率引起的色差影響，因此可在350nm至7μm的寬波長范圍內(nèi)使用。

它可用于顯微光譜和半導體失效分析。

細節(jié)

可以使用安裝在主體中央的校正環(huán)來改變鏡筒長度。

通過這種調(diào)節(jié)，可以與從80mm到無限遠的各種顯微鏡鏡筒一起使用。

反射鏡的鋁膜上有MgF 2保護膜，可防止反射鏡劣化，可長期使用。

物鏡安裝螺釘采用JIS標準RMS（M20.32 P=0.706），因此可以安裝在多種顯微鏡鏡筒上。

由于可見光、紫外光、紅外光之間焦點位置和圖像尺寸不變，因此可以準確地疊加不可見光圖像和可見光圖像。

反射物鏡/OBLR-10A

該物鏡由反射鏡構(gòu)成，不受玻璃折射率引起的色差影響，因此可在350nm至7μm的寬波長范圍內(nèi)使用。

它可用于顯微光譜和半導體失效分析。

細節(jié)

可以使用安裝在主體中央的校正環(huán)來改變鏡筒長度。

通過這種調(diào)節(jié)，可以與從80mm到無限遠的各種顯微鏡鏡筒一起使用。

反射鏡的鋁膜上有MgF 2保護膜，可防止反射鏡劣化，可長期使用。

物鏡安裝螺釘采用JIS標準RMS（M20.32 P=0.706），因此可以安裝在多種顯微鏡鏡筒上。

由于可見光、紫外光、紅外光之間焦點位置和圖像尺寸不變，因此可以準確地疊加不可見光圖像和可見光圖像。

反射物鏡 (OBLR)

該物鏡由反射鏡構(gòu)成，不受玻璃折射率引起的色差影響，因此可在350nm至7μm的寬波長范圍內(nèi)使用。

它可用于顯微光譜和半導體失效分析。

您可以使用安裝在主體中心的校正環(huán)來改變鏡筒長度。通過這種調(diào)節(jié)，可以與從80mm到無限遠的各種顯微鏡鏡筒一起使用。

反射鏡的鋁膜有MgF 2保護層，可防止鏡面劣化并使其能夠長期使用。

物鏡安裝螺絲采用JIS標準RMS（M20.32 P0.706），因此可以安裝在許多顯微鏡鏡筒上。

由于可見光、紫外光和紅外光之間焦點位置和圖像尺寸不變，因此可以精確地疊加不可見光圖像和可見光圖像。

日本 SIGMAKOKI 西格瑪 反射物鏡 OBLR-20A

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